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Photoelectron spectroscopic study of Li intercalation into V2O5 thin films

Wu, Q.-H. ; Thißen, A. ; Jaegermann, W. :
Photoelectron spectroscopic study of Li intercalation into V2O5 thin films.
In: Surface Science, 578 (1-3) pp. 203-212. ISSN 00396028
[Artikel], (2005)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2005
Autor(en): Wu, Q.-H. ; Thißen, A. ; Jaegermann, W.
Titel: Photoelectron spectroscopic study of Li intercalation into V2O5 thin films
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Surface Science
Band: 578
(Heft-)Nummer: 1-3
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften > Oberflächenforschung / Surface Science
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:23
ID-Nummer: 10.1016/j.susc.2005.01.042
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