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The impact of process optimisation on planar THz-Schottky device reliability

Mottet, Bastian ; Sydlo, Cezary ; Kögel, Benjamin ; Robillard, Q. de ; Cojocari, Oleg ; Hartnagel, Hans L. :
The impact of process optimisation on planar THz-Schottky device reliability.
In: 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings : 42nd annual ; Phoenix, Arizona, April 25 - 29, 2004 / sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society.- Piscataway, NJ : IEEE Service Center, 2004.- XII, 7 . IEEE Service Center , Piscataway, NJ
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2004)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2004
Autor(en): Mottet, Bastian ; Sydlo, Cezary ; Kögel, Benjamin ; Robillard, Q. de ; Cojocari, Oleg ; Hartnagel, Hans L.
Titel: The impact of process optimisation on planar THz-Schottky device reliability
Sprache: Englisch
Reihe: 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings : 42nd annual ; Phoenix, Arizona, April 25 - 29, 2004 / sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society.- Piscataway, NJ : IEEE Service Center, 2004.- XII, 7
Ort: Piscataway, NJ
Verlag: IEEE Service Center
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:21
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