| Typ des Eintrags: |
Konferenzveröffentlichung
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| Erschienen: |
2003 |
| Autor(en): |
Valizadeh, P. ; Pavlidis, Dimitris |
| Art des Eintrags: |
Bibliographie |
| Titel: |
Low frequency noise-based monitoring of the effects of RF and DC stress on AlGaN/GaN MODFETs |
| Sprache: |
Englisch |
| Publikationsjahr: |
2003 |
| Ort: |
Piscataway, NJ |
| Verlag: |
IEEE Service Center |
| Reihe: |
GaAs IC Symposium <25, 2003, San Diego, Calif.>: Technical digest 2003 ...- Piscataway, NJ: IEEE Service Center, 2003.- 304 S.- ISBN 0-7803-7833-4.- S. 78-81 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Hinterlegungsdatum: |
20 Nov 2008 08:18 |
| Letzte Änderung: |
05 Mär 2013 08:59 |
| PPN: |
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| Export: |
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