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Optical characterization of AlN/GaN heterostructure

Ursaki, V. V. ; Tiginyanu, I. M. ; Zalamai, V. V. ; Hubbard, S. M. ; Pavlidis, Dimitris (2003)
Optical characterization of AlN/GaN heterostructure.
In: Journal of Applied Physics, 94 (8)
doi: 10.1063/1.1609048
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2003
Autor(en): Ursaki, V. V. ; Tiginyanu, I. M. ; Zalamai, V. V. ; Hubbard, S. M. ; Pavlidis, Dimitris
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Optical characterization of AlN/GaN heterostructure
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 30 September 2003
Verlag: American Institute of Physics
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of Applied Physics
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 94
(Heft-)Nummer: 8
DOI: 10.1063/1.1609048
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 20 Nov 2008 08:18
Letzte Änderung: 28 Mai 2020 13:20
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