Rispal, Lorraine ; Stefanov, Yordan ; Heller, Rudolf ; Tzschöckel, Gerhard ; Hess, Gisela ; Haberle, Klaus ; Schwalke, Udo (2005)
Topographic and Conductive AFM Measurements on Carbon Nanotube Field-Effect Transistors Fabricated by In-Situ Chemical Vapor Deposition.
International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM). Kobe, Japan (12.-15.09.2005)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2005 |
| Autor(en): | Rispal, Lorraine ; Stefanov, Yordan ; Heller, Rudolf ; Tzschöckel, Gerhard ; Hess, Gisela ; Haberle, Klaus ; Schwalke, Udo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Topographic and Conductive AFM Measurements on Carbon Nanotube Field-Effect Transistors Fabricated by In-Situ Chemical Vapor Deposition |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 15 September 2005 |
| Veranstaltungstitel: | International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM) |
| Veranstaltungsort: | Kobe, Japan |
| Veranstaltungsdatum: | 12.-15.09.2005 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:16 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 08:57 |
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