Sydlo, Cezary ; Saglam, Mustafa ; Mottet, Bastian ; Rodriguez-Girones Arboli, Manuel ; Hartnagel, Hans L. (2002)
Reliability investigations on HBV using pulsed electrical stress.
In: Microelectronics reliability, 42
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2002 |
| Autor(en): | Sydlo, Cezary ; Saglam, Mustafa ; Mottet, Bastian ; Rodriguez-Girones Arboli, Manuel ; Hartnagel, Hans L. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Reliability investigations on HBV using pulsed electrical stress |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2002 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Microelectronics reliability |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 42 |
| Zusätzliche Informationen: | Ebenfalls ersch. in: European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis <13, 2002, Bellaria>: Proceedings |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:30 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:27 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum