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Pulsed electrical stress techniques for the detection of non-thermal lifetime-problems with semiconductor devices and their IC's

Mottet, Bastian ; Sydlo, Cezary ; Hartnagel, Hans L. :
Pulsed electrical stress techniques for the detection of non-thermal lifetime-problems with semiconductor devices and their IC's.
In: GAAS 2000: Gallium Arsenide and other Semiconductor Application Symposium <2000, Paris>; Symposium Proceedings. S. 39-43 .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2000)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2000
Autor(en): Mottet, Bastian ; Sydlo, Cezary ; Hartnagel, Hans L.
Titel: Pulsed electrical stress techniques for the detection of non-thermal lifetime-problems with semiconductor devices and their IC's
Sprache: Englisch
Reihe: GAAS 2000: Gallium Arsenide and other Semiconductor Application Symposium <2000, Paris>; Symposium Proceedings. S. 39-43
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:30
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