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Methods of charge state analysis of fast ions inside matter based on their x-ray spectral distribution

Rosmej, Frank B. ; More, R. ; Rosmej, Olga N. ; Wieser, Jochen ; Borisenko, N. ; Shevelko, V. P. ; Geissel, Matthias ; Blazevic, Abel ; Jacoby, Joachim ; Dewald, Eduard ; Roth, Markus ; Brambrink, Erik ; Weyrich, Karin ; Hoffmann, Dieter H. H. ; Golubev, A. A. ; Turtikov, V. ; Fertman, Alexander ; Sharkov, B. Yu. ; Faenov, Anatoly Ya. ; Pikuz, Tanja A. ; Magunov, A. I. ; Skobelev, I. Yu. (2002)
Methods of charge state analysis of fast ions inside matter based on their x-ray spectral distribution.
In: Laser and particle beams, 20 (3)
doi: 10.1017/S0263034602203249
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2002
Autor(en): Rosmej, Frank B. ; More, R. ; Rosmej, Olga N. ; Wieser, Jochen ; Borisenko, N. ; Shevelko, V. P. ; Geissel, Matthias ; Blazevic, Abel ; Jacoby, Joachim ; Dewald, Eduard ; Roth, Markus ; Brambrink, Erik ; Weyrich, Karin ; Hoffmann, Dieter H. H. ; Golubev, A. A. ; Turtikov, V. ; Fertman, Alexander ; Sharkov, B. Yu. ; Faenov, Anatoly Ya. ; Pikuz, Tanja A. ; Magunov, A. I. ; Skobelev, I. Yu.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Methods of charge state analysis of fast ions inside matter based on their x-ray spectral distribution
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: Juni 2002
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Laser and particle beams
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 20
(Heft-)Nummer: 3
DOI: 10.1017/S0263034602203249
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 05 Fachbereich Physik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:29
Letzte Änderung: 20 Feb 2020 13:26
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