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Structural characterisation of 2D- and 3D-nanostructures by means of High Resolution Electron Microscopy

Buschmann, Veronique :
Structural characterisation of 2D- and 3D-nanostructures by means of High Resolution Electron Microscopy.
Technische Univ. Darmstadt , Darmstadt
[Dissertation]

Typ des Eintrags: Dissertation
Erschienen: 2008
Autor(en): Buschmann, Veronique
Titel: Structural characterisation of 2D- and 3D-nanostructures by means of High Resolution Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Ort: Darmstadt
Verlag: Technische Univ. Darmstadt
Edition: Darmstadt: 1998. IV,146 S
Kollation: 146 S
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Physik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:56
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