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Weiterentwicklung und Anwendung diffraktometrischer Methoden zur Materialcharakterisierung mit Synchrotronstrahlung

Knapp, Michael :
Weiterentwicklung und Anwendung diffraktometrischer Methoden zur Materialcharakterisierung mit Synchrotronstrahlung.
Techn. Univ., Fachber. Material- und Geowiss. , Darmstadt
[Dissertation]

Typ des Eintrags: Dissertation
Erschienen: 2002
Autor(en): Knapp, Michael
Titel: Weiterentwicklung und Anwendung diffraktometrischer Methoden zur Materialcharakterisierung mit Synchrotronstrahlung
Sprache: Deutsch
Ort: Darmstadt
Verlag: Techn. Univ., Fachber. Material- und Geowiss.
Kollation: 97 S. : graph. Darst.
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:28
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