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Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO 2 mit Transmissionselektronenmikroskopie

Wahl, Claudia :
Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO 2 mit Transmissionselektronenmikroskopie.
Techn. Univ. , Darmstadt
[Dissertation]

Typ des Eintrags: Dissertation
Erschienen: 2002
Autor(en): Wahl, Claudia
Titel: Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO 2 mit Transmissionselektronenmikroskopie
Sprache: Deutsch
Ort: Darmstadt
Verlag: Techn. Univ.
Kollation: 108 Bl.
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:28
Zusätzliche Informationen:

Zeichendarst. im Sachtitel teilw. nicht vorlagegemäß wiedergegeben

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