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Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO 2 mit Transmissionselektronenmikroskopie

Wahl, Claudia (2002):
Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO 2 mit Transmissionselektronenmikroskopie.
Darmstadt, Techn. Univ., TU Darmstadt,
[Ph.D. Thesis]

Item Type: Ph.D. Thesis
Erschienen: 2002
Creators: Wahl, Claudia
Title: Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO 2 mit Transmissionselektronenmikroskopie
Language: German
Place of Publication: Darmstadt
Publisher: Techn. Univ.
Collation: 108 Bl.
Divisions: 11 Department of Materials and Earth Sciences
Date Deposited: 19 Nov 2008 16:28
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