Wahl, Claudia (2002)
Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO 2 mit Transmissionselektronenmikroskopie.
Technische Universität Darmstadt
Dissertation, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Dissertation |
|---|---|
| Erschienen: | 2002 |
| Autor(en): | Wahl, Claudia |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO 2 mit Transmissionselektronenmikroskopie |
| Sprache: | Deutsch |
| Publikationsjahr: | 2002 |
| Ort: | Darmstadt |
| Verlag: | Techn. Univ. |
| Kollation: | 108 Bl. |
| Zusätzliche Informationen: | Zeichendarst. im Sachtitel teilw. nicht vorlagegemäß wiedergegeben |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:28 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 08:53 |
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