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Advanced electromagnetic field analysis for high quality beams

Weiland, Thomas ; Schuhmann, R. :
Advanced electromagnetic field analysis for high quality beams.
In: ISEM 2001: International Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics <10, 2001, Tokyo>; Proceedings. S. 303-304 .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2001)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2001
Autor(en): Weiland, Thomas ; Schuhmann, R.
Titel: Advanced electromagnetic field analysis for high quality beams
Sprache: Englisch
Reihe: ISEM 2001: International Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics <10, 2001, Tokyo>; Proceedings. S. 303-304
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:28
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