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Self-consistent simulations of transient heating effects in electrical devices using the Finite Integration Technique

Clemens, Markus ; Gjonaj, E. ; Pinder, P. ; Weiland, Thomas :
Self-consistent simulations of transient heating effects in electrical devices using the Finite Integration Technique.
In: CEFC 2000: IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation <2000, Milwaukee>: Proceedings .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2001)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2001
Autor(en): Clemens, Markus ; Gjonaj, E. ; Pinder, P. ; Weiland, Thomas
Titel: Self-consistent simulations of transient heating effects in electrical devices using the Finite Integration Technique
Sprache: Englisch
Reihe: CEFC 2000: IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation <2000, Milwaukee>: Proceedings
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:28
Zusätzliche Informationen:

Ersch. ebenf. in: IEEE Transactions on magnetics. Vol. 37 (2001)No. 5, S. 3375-3379

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