Ehrenberg, Helmut ; Knapp, M. ; Hartmann, T. ; Fuess, H. ; Wroblewski, T. (2000)
Resonant X-ray diffraction using high-resolution image-plate data.
In: Journal of applied crystallography, 33 (3, 2)
doi: 10.1107/S0021889800004283
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Autor(en): | Ehrenberg, Helmut ; Knapp, M. ; Hartmann, T. ; Fuess, H. ; Wroblewski, T. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Resonant X-ray diffraction using high-resolution image-plate data |
| Sprache: | Deutsch |
| Publikationsjahr: | 2000 |
| Verlag: | Wiley-Blackwell - STM ; International Union of Crystallography (IUCr) |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Journal of applied crystallography |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 33 |
| (Heft-)Nummer: | 3, 2 |
| DOI: | 10.1107/S0021889800004283 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:24 |
| Letzte Änderung: | 15 Jun 2021 08:12 |
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