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Resonant X-ray diffraction using high-resolution image-plate data

Ehrenberg, Helmut ; Knapp, M. ; Hartmann, T. ; Fuess, H. ; Wroblewski, T. :
Resonant X-ray diffraction using high-resolution image-plate data.
In: Journal of applied crystallography, 33 pp. 953-957.
[Artikel], (2000)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2000
Autor(en): Ehrenberg, Helmut ; Knapp, M. ; Hartmann, T. ; Fuess, H. ; Wroblewski, T.
Titel: Resonant X-ray diffraction using high-resolution image-plate data
Sprache: Deutsch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of applied crystallography
Band: 33
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:24
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