Exner, Hans Eckart ; Rettenmayr, M. (1997)
Applications of image analysis for the quantitative characterisation of microstructural defects in materials.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 1997 |
| Autor(en): | Exner, Hans Eckart ; Rettenmayr, M. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Applications of image analysis for the quantitative characterisation of microstructural defects in materials |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1997 |
| Ort: | Bristol (u.a.) |
| Verlag: | Institute of Physics Publishing |
| Reihe: | DRIP VII: International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors <7, 1997, Templin>: Proceedings, Hrsg.: J. Donecker (u.a.) - Bristol (u.a.): Inst. of Physics Publ., 1998 |
| Band einer Reihe: | 160 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften) 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:23 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 08:46 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum