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Model-Based Analysis of Accelerated Lifetime Test Data of Off-Line LED Drivers

Keil, Ferdinand ; Benkner, Simon ; Khanh, Tran Quoc ; Hofmann, Klaus (2022)
Model-Based Analysis of Accelerated Lifetime Test Data of Off-Line LED Drivers.
34. Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022). Bremerhaven, Germany (27.02.-01.03.2022)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2022
Autor(en): Keil, Ferdinand ; Benkner, Simon ; Khanh, Tran Quoc ; Hofmann, Klaus
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Model-Based Analysis of Accelerated Lifetime Test Data of Off-Line LED Drivers
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 28 Februar 2022
Veranstaltungstitel: 34. Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022)
Veranstaltungsort: Bremerhaven, Germany
Veranstaltungsdatum: 27.02.-01.03.2022
URL / URN: http://www.informatik.uni-bremen.de/tuz/2022
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Integrierte Elektronische Systeme (IES)
Hinterlegungsdatum: 21 Mär 2022 10:19
Letzte Änderung: 21 Mär 2022 10:19
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