Kleebe, H.-J. ; Pezzotti, G. ; Nishida, T. (1995)
Transmission electron microscopy characterization of a fluorine-doped Si3N4.
In: Journal of Materials Science Letters, 14 (23)
doi: 10.1007/bf00422670
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1995 |
| Autor(en): | Kleebe, H.-J. ; Pezzotti, G. ; Nishida, T. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Transmission electron microscopy characterization of a fluorine-doped Si3N4 |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1995 |
| Verlag: | Springer |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Journal of Materials Science Letters |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 14 |
| (Heft-)Nummer: | 23 |
| DOI: | 10.1007/bf00422670 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Geomaterialwissenschaft |
| Hinterlegungsdatum: | 17 Nov 2021 12:07 |
| Letzte Änderung: | 17 Nov 2021 12:07 |
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