Ying, Haoyuan ; Jaiswal, Ashok Kumar ; Hollstein, Thomas ; Samman, Faizal Arya ; Hofmann, Klaus (2011)
Fault Tolerant Interface and Fault Injection Model for Network-on-Chip.
23. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ'11). Passau, Germany (27.2.-01.03.2011)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2011 |
| Autor(en): | Ying, Haoyuan ; Jaiswal, Ashok Kumar ; Hollstein, Thomas ; Samman, Faizal Arya ; Hofmann, Klaus |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Fault Tolerant Interface and Fault Injection Model for Network-on-Chip |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 28 Februar 2011 |
| Veranstaltungstitel: | 23. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ'11) |
| Veranstaltungsort: | Passau, Germany |
| Veranstaltungsdatum: | 27.2.-01.03.2011 |
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| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Integrierte Elektronische Systeme (IES) |
| Hinterlegungsdatum: | 18 Jan 2021 11:17 |
| Letzte Änderung: | 18 Jan 2021 11:17 |
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