Keil, Ferdinand ; Hofmann, Klaus (2019)
A Comparative Study of the Lifetimes of High-End and Low-Cost Off-Line LED Drivers Under Accelerated Test Conditions.
16th China International Forum on Solid State Lighting 2019 International Forum on Wide Bandgap Semiconductors China (SSLChina: IFWS 2019). Shenzhen, China (25.-27.11.)
doi: 10.1109/SSLChinaIFWS49075.2019.9019814
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2019 |
| Autor(en): | Keil, Ferdinand ; Hofmann, Klaus |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | A Comparative Study of the Lifetimes of High-End and Low-Cost Off-Line LED Drivers Under Accelerated Test Conditions |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | November 2019 |
| Verlag: | IEEE |
| Veranstaltungstitel: | 16th China International Forum on Solid State Lighting 2019 International Forum on Wide Bandgap Semiconductors China (SSLChina: IFWS 2019) |
| Veranstaltungsort: | Shenzhen, China |
| Veranstaltungsdatum: | 25.-27.11. |
| DOI: | 10.1109/SSLChinaIFWS49075.2019.9019814 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Datentechnik > Integrierte Elektronische Systeme (IES) |
| Hinterlegungsdatum: | 03 Nov 2020 10:57 |
| Letzte Änderung: | 03 Nov 2020 12:09 |
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