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Review—Electronic Properties of 2D Layered Chalcogenide Surfaces and Interfaces grown by (quasi) van der Waals Epitaxy

Klein, Andreas ; Jaegermann, Wolfram (2020)
Review—Electronic Properties of 2D Layered Chalcogenide Surfaces and Interfaces grown by (quasi) van der Waals Epitaxy.
In: ECS Journal of Solid State Science and Technology, 9 (9)
doi: 10.1149/2162-8777/abb750
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2020
Autor(en): Klein, Andreas ; Jaegermann, Wolfram
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Review—Electronic Properties of 2D Layered Chalcogenide Surfaces and Interfaces grown by (quasi) van der Waals Epitaxy
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 5 Oktober 2020
Verlag: IOP Science
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: ECS Journal of Solid State Science and Technology
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 9
(Heft-)Nummer: 9
DOI: 10.1149/2162-8777/abb750
URL / URN: https://iopscience.iop.org/article/10.1149/2162-8777/abb750
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenstruktur von Materialien
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung
Hinterlegungsdatum: 28 Okt 2020 07:31
Letzte Änderung: 28 Okt 2020 07:31
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