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In-situ Charakterisierung der Strukturentwicklung von dünnen Kupferoxidschichten

Roesner, Michael :
In-situ Charakterisierung der Strukturentwicklung von dünnen Kupferoxidschichten.
Technische Univ. Darmstadt , Darmstadt
[Dissertation]

Typ des Eintrags: Dissertation
Erschienen: 1998
Autor(en): Roesner, Michael
Titel: In-situ Charakterisierung der Strukturentwicklung von dünnen Kupferoxidschichten
Sprache: Deutsch
Ort: Darmstadt
Verlag: Technische Univ. Darmstadt
Auflage: Darmstadt: 1998. 3,134 S
Kollation: 3,134 S.
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften)
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:55
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