Zintler, Alexander ; Eilhardt, Robert ; Wang, Shuai ; Krajnak, Matus ; Schramowski, Patrick ; Stammer, Wolfgang ; Petzold, Stefan ; Kaiser, Nico ; Kerstling, Kristian ; Alff, Lambert ; Molina-Luna, Leopoldo (2020)
Machine Learning Assisted Pattern Matching: Insight into Oxide Electronic Device Performance by Phase Determination in 4D-STEM Datasets.
In: Microscopy and Microanalysis, 2020
doi: 10.1017/S1431927620019790
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2020 |
| Autor(en): | Zintler, Alexander ; Eilhardt, Robert ; Wang, Shuai ; Krajnak, Matus ; Schramowski, Patrick ; Stammer, Wolfgang ; Petzold, Stefan ; Kaiser, Nico ; Kerstling, Kristian ; Alff, Lambert ; Molina-Luna, Leopoldo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Machine Learning Assisted Pattern Matching: Insight into Oxide Electronic Device Performance by Phase Determination in 4D-STEM Datasets |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 30 Juli 2020 |
| Verlag: | Cambridge University Press |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Microscopy and Microanalysis |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 2020 |
| DOI: | 10.1017/S1431927620019790 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenmikroskopie |
| Hinterlegungsdatum: | 12 Aug 2020 08:15 |
| Letzte Änderung: | 12 Aug 2020 08:15 |
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