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Crystallographic orientation of facets and planar defects in functional nanostructures elucidated by nano-focused coherent diffractive X-ray imaging

Richard, Marie-Ingrid ; Fernández, Sara ; Eymery, Joël ; Hofmann, Jan P. ; Gao, Lu ; Carnis, Jérôme ; Labat, Stéphane ; Favre-Nicolin, Vincent ; Hensen, Emiel J. M. ; Thomas, Olivier ; Schülli, Tobias U. ; Leake, Steven J. (2018)
Crystallographic orientation of facets and planar defects in functional nanostructures elucidated by nano-focused coherent diffractive X-ray imaging.
In: Nanoscale, 10 (10)
doi: 10.1039/C7NR07990G
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2018
Autor(en): Richard, Marie-Ingrid ; Fernández, Sara ; Eymery, Joël ; Hofmann, Jan P. ; Gao, Lu ; Carnis, Jérôme ; Labat, Stéphane ; Favre-Nicolin, Vincent ; Hensen, Emiel J. M. ; Thomas, Olivier ; Schülli, Tobias U. ; Leake, Steven J.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Crystallographic orientation of facets and planar defects in functional nanostructures elucidated by nano-focused coherent diffractive X-ray imaging
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 16 Januar 2018
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Nanoscale
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 10
(Heft-)Nummer: 10
DOI: 10.1039/C7NR07990G
URL / URN: https://doi.org/10.1039/C7NR07990G
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Oberflächenforschung
Hinterlegungsdatum: 07 Jul 2020 05:32
Letzte Änderung: 22 Jan 2021 10:19
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