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US-AID: Unattended Scalable Attestation of IoT Devices

Ibrahim, Ahmad ; Sadeghi, Ahmad-Reza ; Tsudik, Gene :
US-AID: Unattended Scalable Attestation of IoT Devices.
In: 37th IEEE International Symposium on Reliable Distributed Systems (SRDS 2018), 2018.
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2018)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2018
Autor(en): Ibrahim, Ahmad ; Sadeghi, Ahmad-Reza ; Tsudik, Gene
Titel: US-AID: Unattended Scalable Attestation of IoT Devices
Sprache: Englisch
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 20 Fachbereich Informatik
20 Fachbereich Informatik > Systemsicherheit
Profilbereiche
Profilbereiche > Cybersicherheit (CYSEC)
Veranstaltungstitel: 37th IEEE International Symposium on Reliable Distributed Systems (SRDS 2018)
Veranstaltungsdatum: 2018
Hinterlegungsdatum: 02 Jul 2018 06:48
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